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EVG®6200 NT Mask Alignment System(semi-automated / automated)
EVG®6200NT 掩模对准系统(半自动/自动)
EVG®6200NT掩模对准器是用于光学双面光刻和200 mm晶圆尺寸的多功能工具。
技术数据
EVG6200 NT以其自动化灵活性和可靠性而著称,在 小的占位面积上提供了进的掩模对准技术,并具有的通量, 的对准功能和优化的总拥有 操作员友好型软件, 短的掩模和工具更换时间以及高效的 服务和支持使它成为任何制造环境的理想解决方案。
EVG6200 NT或完全容纳的EVG6200 NT Gen2掩模对准系统有半自动或自动配置,并配有集成的振动隔离功能,可在 的应用中实现 曝光效果,例如薄和厚抗蚀剂的曝光,深腔的图案化和可比的形貌,以及薄而易碎的材料(例如化合物半导体)的加工。此外,半自动和全自动系统配置均支持EVG SmartNIL技术。
特征:
晶圆/基片尺寸从200 mm / 8'’
系统设计支持光刻工艺的多功能性:
在 打印模式下的吞吐量高达180 WPH,在自动对齐模式下的吞吐量高达140 WPH
易碎,薄或翘曲的多种晶圆尺寸的晶圆处理,更换时间短
带有间隔垫片的自动无接触楔形补偿程序
自动原点功能,用于对准键的 居中
具有实时偏移校正的动态对准功能 支持 新的UV-LED技术
返工分拣晶圆管理和灵活的盒式系统 自动化系统上的手动基材装载功能
可以从半自动版本升级为全自动版本 小化系统占地面积和设施要求
多用户概念( 数量的用户帐户和配方,可分配的访问权限,不同的用户界面语言)
的软件功能以及研发与 生产之间的兼容性;敏捷处理和转换重组;远程技术支持和SECS / GEM兼容性;台式或带防震花岗岩台的单机版。
附加功能:键对齐 红外对准 纳米压印光刻(NIL);
技术数据:
曝光源:汞光源/紫外线LED光源
的对齐功能:手动对准/原位对准验证 ;自动对齐;动态对齐/自动边缘对齐
对准偏移校正算法:通量;
全自动 批生产量:每小时180片
全自动:吞吐量对齐:每小时140片晶圆
晶圆直径(基板尺寸):高达200毫米
对齐方式:上侧对齐:≤±0.5 µm;底侧对齐:≤±1,0 µm;红外校准:≤±2,0 µm /基板材料,具体取决于; 键对准:≤±2,0 µm;NIL对准:≤±3.0 µm
曝光设定:真空接触/硬接触/软接触/接近模式/弯曲模式
楔形补偿:全自动-SW控制;
曝光选项:间隔暴露/洪水暴露/扇区暴露
系统控制,操作系统:Windows;文件共享和备份解决方案/ 制配方和参数;多语言用户GUI和支持:CN,DE,FR,IT,JP,KR;实时远程访问,诊断和故障排除
工业自动化功能:盒式磁带/ SMIF / FOUP / SECS / GEM /薄,弯曲,翘曲,边缘晶圆处理
纳米压印光刻技术:SmartNIL®;
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